In-situ Spannungsmesssystem SIG-2000SP
SIG-2000SP

Anwendungsbereiche

Das Spannungsmessgerät SIG-2000SP wurde entworfen, um Spannungen in dünnen Schichten bereits während des Beschichtungsprozesses zu messen. Es kann an praktisch jede herkömmliche Beschichtungskammer außen angeflanscht werden, um durch ein Fenster die zwei Laserstrahlen auf das Substrat zu lenken.
Auf dem Beschichtungsträger (also einer Kalotte oder einem Planetengetriebe) wird ein Referenzsubstrat angebracht, an welchem die Spannung und ihre Veränderungen bei jedem Umlauf gemessen werden kann. Das Gerät ist äußerst hilfreich beim entwickeln neuer Dünnschichtsysteme, da man unterschiedlichste Parameter, z.b. verschiedene Beschleunigungsspannungen, anwenden kann und der Entwickler den tatsächlichen Einfluß auf den sich daraus ergebenen Stress beobachten kann.

Prinzip:

Schema SIG-2000SP

Technische Daten:

Auflösung: Besser als +-30 MPa bei einer 100nm Schicht auf einem 150µm dicken Si-Substrat (bei Rotation von ca. 60U/min)
Substrate: Nahezu alle Materialien
Eine Seite spiegelnd (mindestens R = 3%) Typische Dicken von 100µm bis 1000µm
Probenhalter: Erhältlich für alle Substratformen kleiner als 30mm x 30mm
Detektor: CCD Zeilendetektor, wahlweise hochgeschwindigkeitsfähig
Laser / Optik: Diodenlasermodul mit Strahlteileroptik (erzeugt zwei parallele Laserlinien mit einem Abstand von 10mm) Laserschutzklasse II
Abmessungen: 12cm x 12cm x 25cm
Gewicht: 6kg
Software: Spezielle Software zum Messen, Auswerten und Archivieren
Montage: Um das System an die gewünschte Anlage zu montieren liefert sigma-physik auch individuelle Adapter

Beispielmessung:

Grafik Beispielmessung